論文 - 市村 正也

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  • Deposition of Amorphous SexTe1-x Thin Film Alloys by a Novel Photochemical Deposition Technique and Their Analysis

    R. Kumaresan, M. Ichimura, N. Sato, P. Ramasamy, and E. Arai

    J. Electrochem. Soc.   149 ( 9 )   C464 - C468   2002年04月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Application of Novel Photochemical Deposition Technique for the Deposition of Indium Sulfide 査読あり

    R. Kumaresan, M. Ichimura, N. Sato, P. Ramasamy

    Mater. Sci. Eng. B   96 ( 7 )   37 - 42   2002年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Photochemical Deposition of ZnSe Polycrystalline Thin Films and Their Characterization 査読あり

    R. Kumaresan, M. Ichimura and E. Arai

    Thin Solid Films   414 ( 7 )   25 - 30   2002年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Boron Diffusion Profiles in Ultrathin Silicon-on-Insulator Structures and Their Relation to Crystalline Quality 査読あり

    H. Uchida, M. Ichimura and E. Arai

    Jpn. J. Appl. Phys.   41 ( 7 )   4436 - 4441   2002年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Bulk Carrier Lifetime Measurement by the Microwave Reflectance Photochonductivity Decay Method with External Surface Electric Field 査読あり

    M. Ichimura, A. Tada, E. Arai, H. Takamatsu, S. Sumie

    Appl. Phys. Lett.   80 ( 23 )   4390 - 4392   2002年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Preparation of (Bi, Sb)2S3 Semiconductor Films by Photochemical Deposition Method 査読あり

    H. Sasaki, K. Shibayama, M. Ichimura and K. Masui

    J. Cryst. Growth   237-239 ( 7A )   2125 - 2129   2002年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Changes in Carrier Profiles of Bonded SOI Wafers with Thermal Annealing Measured by the Spreading Resistance Method 査読あり

    M. Ichimura, S. Ito, and E. Arai

    Solid St. Electron   46 ( 7A )   545 - 553   2002年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Characterization of Si Wafer Surfaces after Wet Chemical Treatment by the Microwave Reflectance Photoconductivity Decay Method withSurface Electric Field 査読あり

    A. Tada, M. Ichimura, E. Arai, H. Takamatsu, and S. Sumie

    Jpn. J. Appl. Phys.   40 ( 5A )   3069 - 3074   2001年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Photochemical Deposition of Se and CdSe from Aqueous Solutions 査読あり

    M. Ichimura, A. Nakamura, K. Takeuchi, and E. Arai

    Thin Solid Films   384 ( 4B )   157 - 159   2001年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Passivation of Deep Levels in 3C-SiC on Si by a Hydrogen Plasma Treatment 査読あり

    M. Kato, F. Sobue, M. Ichimura, E. Arai, N. Yamada, Y. Tokuda, and T. Okumura

    Jpn. J. Appl. Phys.   40 ( 4B )   2983 - 2986   2001年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Electrical and Optical Properties of CdS Films Grown by Photochemical Deposition from Aqueous Solutions 査読あり

    R. Kumaresan, M. Ichimura, K. Takahashi, K. Takeuchi, F. Goto, and E. Arai

    Jpn. J. Appl. Phys.   40 ( 5A )   3161 - 3162   2001年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Deep Level Study in Heteroepitaxial 3C-SiC Grown on Si by Hexamethyldisilane 査読あり

    M. Kato, M. Ichimura, E. Arai, Y. Masuda, Y. Chen, S. Nishino, and Y. Tokuda

    Jpn. J. Appl. Phys.   40 ( 8 )   4943 - 4947   2001年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Sacrificial Anodic Oxidation of 6H-SiC 査読あり

    M. Kato, M. Ichimura, and E. Arai

    Jpn. J. Appl. Phys.   40 ( 11A )   L1145 - L1147   2001年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Quality Assessment of Bridgman Grown CdTe Single Crystals using Double Crystal X-ray Diffractometry (DCD) and Synchrotron Radiation

    R Kumaresan, R. Gopalakrishnan, S. Moorth Babu, P. Ramasamy, P. Zaumseil, and, M Ichimura

    J. Crystal. Growth   210 ( 11 )   193 - 197   2000年04月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Retarded Diffusion of Phosphorus in Silicon-on-Insulator Structures 査読あり

    H. Uchida, Y. Ieki, M. Ichimura, and E. Arai

    Jpn. J. Appl. Phys.   39 ( 2B )   L137 - L140   2000年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Electrochemical Deposition of SnS Thin Films 査読あり

    M. Ichimura, K. Takeuchi, Y. Ono, and E. Arai

    Thin Solid Films   361-362 ( 12A )   98 - 101   2000年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Characterization of Si Wafers by μ-PCD with Surface Electric Field 査読あり

    M. Ichimura, M. Hirano, A. Tada, E. Arai, H. Takamatsu, and S. Sumie

    Mater. Sci. Eng. B   73 ( 12A )   230 - 234   2000年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Slow Decay of Excess Carrier Concentration in Bonded Silicon-on-Insulator Wafers 査読あり

    M. Hirano, M. Ichimura, and E. Arai

    Jpn. J. Appl. Phys.   39 ( 12A )   6513 - 6514   2000年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Deposition of CdS and ZnS from Aqueous Solutions by a New Photochemical Technique 査読あり

    M. Ichimura, F. Goto, Y. Ono, and E. Arai

    J. Cryst. Growth   198-199 ( 3 )   308 - 312   1999年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Photochemical Deposition of CdS from Aqueous Solutions 査読あり

    M. Ichimura, F. Goto, and E. Arai

    J. Electrochem. Soc.   146 ( 3 )   1028 - 1034   1999年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

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