論文 - 井田 隆
-
Powder x-ray structure refinement applying a theory for particle statistics 招待あり 査読あり
Takashi Ida
Solid State Phenomena 203-204 3 - 8 2013年06月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
粉末X線回折法による相組成分析と球形試料の吸収補正 査読あり
井田隆
名古屋工業大学先進セラミック研究センター年報 2013年03月
記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（大学，研究機関等紀要）
-
Particle Statistics in Rotating-Specimen Powder Diffractometry
Takashi Ida
Photon Factory Activity Report 2011 Part B 401 - 401 2013年01月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（その他学術会議資料等）
-
最尤推定に基づく新しい粉末構造解析法 査読あり
井田隆
名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター年報 2012年03月
記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（大学，研究機関等紀要）
-
Application of a theory for particle statistics to structure refinement from powder diffraction data（共著） 査読あり
T. Ida, F. Izumi
Journal of Applied Crystallography 44 ( 5 ) 921 - 927 2011年10月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
最尤推定法と統計誤差モデルを用いることにより、従来用いられてきたリートベルト法より優れた構造精密化法を開発した。公開されている粉末回折データに適用し、この方法で最適化された構造はリートベルト法の結果よりむしろ単結晶構造解析の結果に近くなる傾向が見出された。
DOI： 10.1107/S0021889811031013
その他リンク： http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S0021889811031013
-
Particle statistics of capillary specimen in synchrotron powder diffractometry 査読あり
T. Ida
Journal of Applied Crystallography 44 ( 5 ) 911 - 920 2011年10月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
キャピラリ試料を用いた軌道放射光粉末回折測定で観測される強度の統計分布から、平均的な結晶粒径だけでなく粒径分布の広がりも評価できることを示した。
DOI： 10.1107/S002188981102824X
その他リンク： http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S002188981102824X
-
Particle statistics in synchrotron powder diffractometry 査読あり
T. Ida, T. Goto, H. Hibino
Zeitschrift fur Kristallographie Proceedings 1 69 - 74 2011年09月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
軌道放射光粉末回折における粒子統計の効果について実験的に調査した。
-
Evaluation of crystallite size distribution by a capillary spinner-scan method in synchrotron powder diffractometry（共著） 招待あり 査読あり
T. Ida, T. Goto, H. Hibino
IOP Scinence Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 18 02202 - 02202 2011年05月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Crystal structures of solid solution (Ba1-xCax)(Sc1/2Nb1/2)O3 system（共著） 査読あり
H. Nakano, T. Ida, M. Takemoto, H. Ikawa
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 18 022002 2011年05月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
広い範囲で固溶体を形成し、特異な誘電特性を示す (Ba1-xCax)(Sc1/2Nb1/2)O3 化合物の構造を、電子回折および軌道放射光粉末回折で調べた。
-
Efficiency in the calculation of absorption corrections for cylinders 査読あり
T. Ida
Journal of Applied Crystallography 43 ( 5 ) 1124 - 1125 2010年10月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
ガラスキャピラリに封入された結晶性粉末試料の吸収補正を計算するための効率の高い方法を見出した。
DOI： 10.1107/S0021889810021199
その他リンク： http://scripts.iucr.org/cgi-bin/paper?S0021889810021199
-
軌道放射光粉末回折測定における粒子統計の効果（共著）
井田隆,後藤大士,日比野寿
名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター年報 9 1 - 7 2010年03月
記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（その他学術会議資料等）
シンクロトロン軌道放射光をＸ線源として用いた場合の粉末回折測定における粒子統計に関する理論的な側面について述べた。非対称反射法にもキャピラリ透過法にも適用できる一般性の高い理論を構築した。観測回折強度の統計分布における歪度は粉末試料中の結晶子サイズ分布の分散に関係付けられる。
その他リンク： http://www.crl.nitech.ac.jp/ar/2009/0000\crl\ar2009\cover
-
Evaluation of particle statistics in powder diffractometry by a spinner-scan method（共著） 査読あり
T. Ida, T. Goto, H. Hibino
J. Appl. Cryst. 42 ( 4 ) 597 - 606 2009年08月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
The uncertainty in measured diffraction intensities caused by particle statistics, which originates from the limited number of crystallites satisfying the diffraction condition, has been evaluated by a step-scan measurement about the rotation angle of a specimen-spinning attachment of a laboratory powder X-ray diffractometer. The residual statistical variance of the spinner-scan intensity data, after subtraction of periodic drift and variance caused by counting statistics, was assigned to the variance caused by particle statistics. Particle statistics for a standard Si powder (NIST SRM640c) and three size fractions (nominally 3-7, 8-12 and 18-22 µm in Stokes diameter) of quartz powder separated by a sedimentation method have been analysed by scanning electron microscopy (SEM) and the spinner-scan method using a powder X-ray diffractometer. It has been confirmed that the observed ratio of the squared diffraction-peak intensity to the variance caused by particle statistics is proportional to the multiplicity of reflections predicted by the crystal structure. The spinner-scan intensity data for the standard Si powder (NIST SRM640c), the effective particle diameter of which was estimated at 5.6 µm by SEM image analysis, was used as the standard for crystallite-size evaluation of quartz powder based on analysis of spinner-scan data. The effective crystallite diameters of the three quartz powder samples have been estimated at 6.5 (2), 11.7 (2) and 22.8 (2) µm by the analysis of the spinner-scan data, while the effective particle diameters evaluated by SEM image analysis are 7.1, 12 and 25 µm, respectively. Other possible applications of the analysis of particle statistics based on the spinner-scan method are also discussed.
-
Isolation of Solid Solution Phases in Size-Controlled LixFePO4 at Room Temperature（共著） 査読あり
G. Kobayashi, S. Nishimura, M. Park, R. Kanno, M. Yashima, T. Ida, A. Yamada
Adv. Funct. Mater. 18 ( 3 ) 395 - 403 2009年02月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
Statistical properties of measured X-ray intensities affected by counting loss 査読あり
T. Ida
J. Appl. Cryst. 41 ( 6 ) 1019 - 1023 2008年12月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
The statistical properties of X-ray intensities measured with counting systems have been experimentally investigated. A formula of statistical variance for the intermediately extended dead-time model is proposed and compared with the experimentally evaluated variance obtained from repeated measurements based on Chipman's foil method applied to X-ray detection systems of laboratory and synchrotron powder diffractometers. It has been found that the variance of the observed intensities is smaller than the average of count, as has been suggested by conventional theoretical models for counting loss. It is shown that the statistical errors can be predicted by applying an intermediately extended dead-time model including dead-time [tau] and degree of extension [rho] as fixed parameters.
-
New measures of sharpness for symmetric powder diffraction peak profiles 査読あり
T. Ida
J. Appl. Cryst. 41 ( 2 ) 393 - 401 2008年04月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
New measures of sharpness for symmetric powder diffraction peak profiles are proposed. The sharpness parameter is defined through the \nuth-order moment of the Fourier transform of the profile function. Analytical expressions for the sharpness parameter for empirical model profile functions, namely the Gaussian, logistic distribution, hyperbolic secant, Lorentzian, Voigt, Pearson VII and pseudo-Voigt functions, and theoretical size-broadening profiles with statistical size distribution are presented. Theoretical diffraction profiles with complicated formulae can be approximated by empirical model functions assuming equivalent values of the sharpness parameter. The concept of the sharpness parameter provides a simple way to define an approximation for a theoretical diffraction peak profile with empirical model functions.
-
検出システムの数え落しの影響を受けた観測強度データの統計的な性質（共著） 査読あり
井田 隆, 大矢哲久, 日比野 寿
名古屋工業大学セラミックス基盤工学研究センター年報 7 1 - 15 2008年03月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（大学，研究機関等紀要）
-
検出器多連装型高分解能回折計を用いた放射光粉末回折測定の進展 査読あり
井田隆
日本結晶学会誌 49 ( 6 ) 347 - 353 2007年12月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
Recent development of synchrotron powder diffractometry with a high resolution powder diffractometer with multiple-detector system (MDS) on the beemline BL-4B2 at the KEK Photon Factory (PF) in Tsukuba is described. Practical methods for analyzing the MDS data, including (i) precise evaluation and correction for counting-loss of detection systems, (ii) connection of segmented intensity data, (iii) deconvolution of instrumental aberration, and (iv) evaluation and removal of asymmetry in the spectroscopic distribution of the source X-ray, have been originally developed for the MDS diffractometer. It is shown that the KEK-PF MDS powder diffractometer has become a more advanced tool for precise and detailed evaluation of crystalline materials.
-
Monte Carlo simulation of the effect of counting losses on measured x-ray intensities 査読あり
T. Ida
J. Appl. Cryst. 40 ( 5 ) 964 - 965 2007年10月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
The statistical properties of intensities affected by counting loss based on conventional non-extended and extended dead-time models are examined by a Monte Carlo method. It has been confirmed that the variance of the counted pulses for the non-extended dead-time model with the rate of generated pulses r and the dead-time [tau] is given by \sigma_{\rm non}^2 = \mu_{\rm non}/(1+r \tau)^2, while that for the extended dead-time model is given by \sigma_{\rm ext}^2 = \mu_{\rm ext} [1 - 2r\tau \exp(-r \tau)], as proposed by Laundy & Collins [(2003). J. Synchrotron Rad. 10, 214-218], for the mean values of counted pulses [mu]non and [mu]ext, respectively. Practical formulae to estimate the statistical errors of the corrected intensities are also presented.
-
Ｘ線回折法による結晶子サイズ分布解析 - ビス（アセチルアセトナト）亜鉛を出発物質とする ZnO ナノ単結晶を例に -（共著） 査読あり
小中 尚, 佐々木明登, 稲葉克彦, 井田 隆, 羽賀浩一, 宍戸統悦
J. Flux Growth 2 ( 1 ) 41 - 44 2007年06月
記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
粉末回折ピーク形状の「尖り度」を特徴づける新しいパラメータ 査読あり
井田 隆
名古屋工業大学 セラミックス基盤工学研究センター年報 6 1 - 11 2007年04月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（大学，研究機関等紀要）
New parameters to specify the sharpness of symmetric powder diffraction peak profiles are proposed. The parameters are defined through the ν-th order moment of the Fourier transform of the profile function. The exact solutions about typical model profile functions and theoretical size-broadening profile with statistical size-distribution are presented. Examination of the difference between the theoretical size-broadening profile and the Lorentzian function with the common sharpness parameters suggests that the order of ν = -1/2 is suitable to approximate the size-broadening profile with alternative model functions.
