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所属学科・専攻等 |
生命・応用化学教育類 環境セラミックス分野
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職名 |
教授 |
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外部リンク |
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井田 隆 (イダ タカシ)
IDA Takashi
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学外略歴
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岡崎国立共同研究機構分子科学研究所 技官
1989年04月 - 1991年03月
国名：日本国
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姫路工業大学 助手
1991年04月 - 1999年07月
国名：日本国
所属学協会
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分析化学会Ｘ線分析研究懇談会
2019年04月 - 現在
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国際結晶学連合（ＩＵＣｒ）
2014年08月 - 現在
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国際回折データセンター（ＩＣＤＤ）
2008年03月 - 現在
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日本セラミックス協会
2002年04月 - 現在
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日本結晶学会
1999年04月 - 現在
研究経歴
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結晶性微粒子のサイズ評価
（選択しない）
研究期間：
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粉末X線回折法による構造解析
（選択しない）
研究期間：
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粉末X線回折法による構造解析
（選択しない）
研究期間：
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粉末Ｘ線回折法による結晶粒径と歪みの評価
（選択しない）
研究期間：
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粉末回折の方法論
（選択しない）
研究期間：
論文
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Lotgering 因子 査読あり
井田隆
名古屋工業大学 先進セラミックス研究センター 年報 11 44 - 47 2023年07月
担当区分：筆頭著者, 責任著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（大学，研究機関等紀要）
その他リンク： http://www.crl.nitech.ac.jp/ar/2022/4447_acrc_ar2022_review.pdf
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Powder X-ray diffraction intensities of corundum calculated by conventional and density functional theory methods and extracted by deconvolutional treatment on experimental data 査読あり
Takashi Ida
Powder Diffraction 38 ( 2 ) 81 - 89 2023年06月
担当区分：筆頭著者, 責任著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Convolution and deconvolutional treatment on sample transparency aberration in Bragg-Brentano geometry 査読あり
Takashi Ida
Powder Diffraction 37 ( 1 ) 13 - 21 2022年03月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Continuous series of symmetric peak profile functions determined by standard deviation and kurtosis 査読あり 国際誌
Takashi Ida
Powder Diffraction 36 ( 4 ) 2021年12月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Centre for Diffraction Data
A mathematical system for modeling the effects of symmetrized instrumental aberrations has been developed. The system is composed of the truncated Gaussian, sheared Gaussian and Rosin-Rammler type functions. The shape of the function can uniquely be determined by the standard deviation and kurtosis. A practical method to evaluate the convolution with the Lorentzian function and results of application to analysis of experimental powder diffraction data are briefly described.
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Equatorial aberration for powder diffraction data collected by continuous scan of a silicon strip X-ray detector 招待あり 査読あり 国際誌
Takashi Ida
Powder Diffraction 64 ( 3 ) 169 - 175 2021年09月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Centre for Diffraction Data
Application of continuous-scan integration to collect X-ray diffraction data with a Si strip X-ray detector (CSI-SSXD) introduces additional effects on the peak-shift and deformation of peak shape caused by the equatorial aberration. A deconvolutional method to correct the effects of equatorial aberration in CSI-SSXD data is proposed in this study. There are four critical angles related to the effects of spill-over of the incident X-ray beam from the specimen face in the CSI-SSXD data. Exact values of cumulants of the equatorial aberration function are efficiently evaluated by 4×4 point two-dimensional Gauss-Legendre integral. A naïve two-step deconvolutional method has been applied to remove the effects of the first and third-order cumulants of the equatorial aberration function from the observed CSI-SSXD data. The performance of the algorithm has been tested by analyses of CSI-SSXD data of three LaB6 powder specimens with the widths of 20, 10 and 5 mm, collected with a diffractometer with the goniometer radius of 150 mm.
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Application of deconvolutional treatment to powder diffraction data collected with a Bragg-Brentano diffractometer with a contaminated Cu target with a Ni filter 査読あり
Takashi Ida
Powder Diffraction 35 ( 03 ) 166 - 177 2020年09月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Centre for Diffraction Data
A deconvolutional method for preprocessing powder diffraction data has been improved. The cumulants of instrumental aberration functions of Bragg-Brentano (Parrish) diffractometer calculated up to the fourth order are presented. The treatments of axial-divergence aberration and the effective spectroscopic profilee of the source X-ray have been simplified from those used in the previous methods. The current method has been applied to powder diffraction data collected with a Cu-target X-ray tube, used over 20 years, and a N-foil K_beta filter.
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Equatorial aberration of powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector by a continuous-scan integration method 査読あり 国際誌
T. Ida
Journal of Applied Crystallography 53 679 - 685 2020年05月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Union of Crystallography
Exact and approximate mathematical formulas of equatorial aberration for powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector in continuous-scan integration mode are presented. An approximate formula is applied to treat the experimental data measured with a commercial powder diffractometer.
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Takashi Ida, Shoki Ono, Daiki Hattan, Takehiro Yoshida, Yoshinobu Takatsu, Katsuhiro Nomura
Powder Diffraction 33 ( 2 ) 80 - 87 2018年06月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Centre for Diffraction Data
A method to remove small CuKβ peaks and step structures caused by NiK-edge absorption as well as CuKα2 sub-peaks from powder diffraction intensity data measured with Cu-target X-ray source and Ni-foil filter is proposed. The method is based on deconvolution–convolution treatment applying scale transform of abscissa, Fourier transform, and a realistic spectroscopic model for the source X-ray. The validity of the method has been tested by analysis of the powder diffraction data of a standard LaB6 powder (NIST SRM660a) sample, collected with the combination of CuKα X-ray source, Ni-foil Kβ filter, flat powder specimen and one-dimensional Si strip detector. The diffraction intensity data treated with the method have certainly shown background intensity profile without CuKβ peaks and NiK-edge step structures.
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Takashi Ida, Shoki Ono, Daiki Hattan, Takehiro Yoshida, Yoshinobu Takatsu, Katsuhiro Nomura
Powder Diffraction 33 ( 2 ) 121 - 133 2018年06月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Centre for Diffraction Data
An improved method to correct observed shift and asymmetric deformation of diffraction peak profile caused by the axial-divergence aberration in Bragg–Brentano geometry is proposed. The method is based on deconvolution–convolution treatment applying scale transform of abscissa, Fourier transform, and cumulant analysis of an analytical model for the axial-divergence aberration. The method has been applied to the powder diffraction data of a standard LaB6 powder (NIST SRM660a) sample, collected with a one-dimensional Si strip detector. The locations, widths and shape of the peaks in the deconvolved–convolved powder diffraction data have been analyzed. The finally obtained whole powder diffraction pattern ranging from 10° to 145° in diffraction angle has been simulated by the Pawley method applying a symmetric Pearson VII peak profile model to each peak with ten background, two peak-shift, three line-width, and two peak-shape parameters, and the Rp value of the best fit has been estimated at 4.4%.
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Removal of small parasite peaks in powder diffraction data by a multiple deconvolution method 査読あり 国際誌
Takashi Ida, Shoki Ono, Daiki Hattan, Takehiro Yoshida, Yoshinobu Takatsu, Katsuhiro Nomura
Powder Diffraction 33 ( 2 ) 108 - 114 2018年06月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌） 出版者・発行元：International Centre for Diffraction Data
Four series of small parasite peaks observed in powder diffraction data recorded with a Cu-target X-ray tube and a Ni filter on the diffracted beam side in Bragg–Brentano geometry are investigated. One series of the parasite peaks is assigned to the tungsten Lα-emission. Other three types of the parasite peak series are likely to be caused by the K-emissions of Ni, but the peak locations are deviated from those predicted by the Bragg's law. An empirical formula to locate the parasite peaks and a method to remove them from observed powder diffraction data are proposed. The method is based on the whole-pattern deconvolution–convolution treatment on the transformed scale of abscissa. The parameters optimized for the diffraction data measured for Si powder has been applied on treatment of the data of LaB6 powder recorded under the same experimental conditions. It has been confirmed that the parasite peaks in the observed data can effectively be removed by the deconvolution treatment with parameters determined by a reference measurement.
書籍等出版物
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機器分析ハンドブック３ 固体・表面分析編
井田 隆 他（ 担当： 分担執筆 , 範囲： Ｘ線回折法）
化学同人 2021年03月 （ ISBN:978-4-7598-2023-2 ）
総ページ数：208 担当ページ：94-107 記述言語：日本語 著書種別：学術書
固体・表面分析にかかわる代表的な分析機器の使い方を平易に解説したハンドブック
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粉末エックス線解析の実際 第２版（共著）
井田隆 他（ 担当： 共著 , 範囲： pp.81-85）
朝倉書店 2009年07月 （ ISBN:9784254140828 ）
記述言語：日本語 著書種別：学術書
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Nanoparticle Technology Handbook（共著）
T. Ida et al.（ 担当： 共著 , 範囲： pp. 270-274）
Elsevier 2007年11月 （ ISBN:9780444531223 ）
記述言語：英語 著書種別：学術書
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ナノパーティクルテクノロジーハンドブック（共著）
井田隆 他（ 担当： 共著 , 範囲： pp.252-257）
日刊工業新聞社 2006年04月 （ ISBN:9784526056642 ）
記述言語：日本語 著書種別：学術書
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「実験化学講座第４版」第１２巻 物質の機能性（共著）
井田隆他（ 担当： 共著 , 範囲： ２．３．１節、２．３．２節）
丸善 1993年04月 （ ISBN:4-621-03816-8 ）
記述言語：日本語 著書種別：学術書
MISC
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粉末回折データに対する逆畳み込み・畳み込み処理の考え方 査読あり
井田隆
名古屋工業大学先進セラミックス研究センター年報 (2016) 5 37 - 43 2017年06月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要） 出版者・発行元：名古屋工業大学先進セラミックス研究センター
最近著者の提案した粉末回折データに対する「逆畳み込み・畳み込み処理」の核となる考え方を紹介する。この方法はＸ線源の現実的な分光プロファイルと、ブラッグ・ブレンターノ型粉末回折計の軸発散収差の精密な近似形式に関するキュムラント解析の結果に基づく。現実の粉末回折データをこの方法により処理し、回折ピークが左右対称な単一ピーク形状をとり、汚染による不要ピークも効果的に除去されることを示す。
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ICDD の活動 査読あり
井田隆
名古屋工業大学先進セラミックス研究センター年報 (2015) 4 12 - 19 2016年07月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要） 出版者・発行元：名古屋工業大学先進セラミックス研究センター
国際回折データセンター International Center for Diffraction Data (ICDD) の活動について述べる。ICDD は粉末回折データの収集・編集・維持・出版・配布をするための非営利かつ非政府の科学組織である。ICDD のメンバーは世界的な学術界・公的機関・産業界からの代表から構成される。ICDD は多様な方法を通じて科学者コミュニティに対して援助も行っている。
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構造解析におけるベイズ推定の応用 査読あり
井田隆
名古屋工業大学先進セラミックス研究センター年報 (2014) 3 11 - 16 2015年07月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要） 出版者・発行元：名古屋工業大学先進セラミックス研究センター
実験データに基づき統計的な推定をするための基本的な概念：(i) ベイズ推定、(ii) 最大事後確率推定、(iii) 最尤推定、(iv) 最小二乗推定について述べる。ベイズ推定とは日本の高校数学の教科書に「条件つき確率」として記載されているものとまったく同じである。ベイズ推定はどのような偏見・先入観・思い込みも許容し、それを捨てることも強要しない。ベイズ推定の基本的な考え方は、「絶対的な真実には到達することができない」ということと、しかし同時に「常に真実に近づくことはできる」ということをあからさまに仮定する。Ｘ線回折測定に基づいた結晶構造解析においてベイズ推定を応用する単純な例について提案する。
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入門講座 分析化学における放射光の利用 粉末X線回折
井田隆
ぶんせき 2015年 ( 2月 ) 2015年02月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：日本分析化学会
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Advanced Methods for Powder Diffraction Anallysis - II
Takashi Ida
Journal of the Technical Association of Refractories, Japan 34 ( 4 ) 237 - 242 2014年12月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：The Technical Association of Refractories, Japan
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Advanced Methods for Powder Diffraction Analysis - I
Takashi Ida
Journal of the Technical Association of Refractories, Japan 34 ( 4 ) 232 - 236 2014年12月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：The Technical Association of Refractories, Japan
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X線回折法による結晶子サイズ評価
井田隆
セラミックス 49 ( 3 ) 157 - 162 2014年03月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：日本セラミックス協会
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Ｘ線粉末解析の最新技術－２
井田 隆
耐火物 65 ( 10 ) 470 - 475 2013年10月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要） 出版者・発行元：耐火物協会
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Ｘ線粉末解析の最新技術ー１
井田 隆
耐火物 65 ( 8 ) 348 - 353 2013年08月
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：耐火物協会
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Particle statistics in synchrotron powder diffractometry
T. Ida, T. Goto, A. Oya, H. Hibino
Photon Factory Activity Report 2009 27 ( B ) 271 - 271 2011年03月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他） 出版者・発行元：Photon Factory
講演・口頭発表等
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Bragg-Brentano 型 XRD 測定システムの軸発散収差
井田隆
日本結晶学会年会 2023年10月 日本結晶学会
開催年月日： 2023年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：山口大学常盤キャンパス（宇部） 国名：日本国
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Powder diffraction intensities of α-Al2O3 国際会議
Takashi Ida
IUCr Congress 2023 2023年08月
開催年月日： 2023年08月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Melbourne 国名：オーストラリア連邦
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Which is the strongest peak among 104, 113 & 116-reflections of corundum? 国際会議
Takashi Ida
ICDD Spring Meetings 2023年03月 International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2023年03月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Concordville, PA 国名：アメリカ合衆国
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コランダム回折強度の密度汎函数理論計算
井田隆
日本結晶学会年会 2022年11月 日本結晶学会
開催年月日： 2022年11月
記述言語：日本語 会議種別：ポスター発表
開催地：西宮 国名：日本国
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反射型粉末回折測定における有限な試料厚さと試料幅の効果
井田隆
日本結晶学会年会 2022年11月 日本結晶学会
開催年月日： 2022年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：西宮 国名：日本国
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Effect of finite width of specimen on sample transparency aberration in Bragg-Brentano geometry 国際会議
Takashi Ida
Denver X-ray Conference 2022年08月 International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2022年08月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Bethesda, MD 国名：アメリカ合衆国
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集中法反射型粉末回折測定における有限厚さ試料の透過性の効果
井田 隆
日本結晶学会年会 日本結晶学会
開催年月日： 2021年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン
反射型の粉末回折測定では，通常はＸ線侵入深さに比べて試料が充分な厚みを持つことを前提とする。試料の厚さが有限な場合，試料の透過性の効果は，回折角依存性の異なる減衰効果と打ち切り効果の二重の畳込として表現される。打ち切り効果に関する逆畳込的処理はピークのブロードニングをもたらすが，ピーク形状が尖鋭化し，ピーク分離の目的で不利にならないことがわかった。
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シリコンストリップ型Ｘ線検出器の連続走査積算により収集された粉末回折データにおける赤道収差
井田 隆
日本結晶学会年会 日本結晶学会
開催年月日： 2020年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン
シリコンストリップ型Ｘ線検出器の連続走査積算により収集された粉末回折データにおける赤道収差の数学的な形式と逆畳み込み的な処理について述べた。
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T. Ida
Denver X-ray Conference International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2020年08月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Virtual event
Current data acquisition system of a laboratory powder X-ray diffractometer with a silicon strip X-ray detector (SSXD) usually support a continuous scan integration method, where output counts from each of detector strips are added to the total counts for appropriate -bin of the output data storage. An explicit approximate formula of the equatorial aberration function has been derived.
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Treatment of powder X-ray diffraction data collected with a Bragg-Brentano diffractometer with a Cu K X-ray source and a Ni-foil filter 国際会議
Takashi Ida
AsCA 2019
開催年月日： 2019年12月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
産業財産権
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Crystallite size analysis method and apparatus using powder x-ray diffraction
Takashi Ida, Licai Jiang
出願番号：12/560,803 出願日：2009年09月
公開番号：US 2011/0064199 A1 公開日：2011年03月
出願国：外国 取得国：外国
受賞
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Best Poster Award in ICDD Spring Meetings
2017年03月 International Centre for Diffraction Data Decontamination of powder diffraction data measured with copper Kalpha x-ray and nickel filter
Takashi Ida
受賞区分：国際学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：アメリカ合衆国
A new method to remove small peaks caused by contamination of x-ray source tube has been developed and demonstrated.
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Ｒｉｃｈａｒｄ and Patricia Spriggs Phase Equillibria Award
2010年10月 The Americal Ceramic Society
Genki Kobayashi, Shin-ichi Nishimura, Min-Sik Park, Ryoji Kanno, Masatomo Yashima, Takashi Ida, Atsuo Yamada
受賞区分：国内外の国際的学術賞 受賞国：アメリカ合衆国
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ICDD Fellow
2010年03月 International Centre for Diffraction Data
Takashi Ida
受賞区分：国内外の国際的学術賞 受賞国：アメリカ合衆国
科研費（文科省・学振）獲得実績
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逆畳み込み・畳み込み法による粉末Ｘ線回折データ処理ソフトウェアの開発
2019年04月 - 2022年03月
科学研究費補助金 基盤研究(B)
井田隆
粉末Ｘ線回折データを処理するために申請者が独自の発想による高速フーリエ変換アルゴリズムとスケール変換処理を用いた装置収差除去ソフトウェアを実用的なアプリケーションプログラムとして開発する。
教育活動に関する受賞
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東海若手セラミスト懇話会優秀発表賞
2016年06月 日本セラミックス協会東海支部東海若手セラミスト懇話会
受賞者：尾野翔器
結晶子サイズと試料回転が二次元粉末回折図形に及ぼす影響
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東海若手セラミスト懇話会優秀発表賞
2016年06月 日本セラミックス協会東海支部東海若手セラミスト懇話会
受賞者：八反大貴
アイドリングストップ車用パラフィン系蓄冷材の構造研究
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東海若手セラミスト懇話会優秀発表賞
2015年06月 日本セラミックス協会東海支部東海若手セラミスト懇話会
受賞者：尾野翔器
Ni 基超合金のラフト形成に関するフェーズフィールド・シミュレーション
委員歴
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分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 幹事
2019年04月 - 現在
団体区分：学協会
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国際回折データセンター（ＩＣＤＤ） Director at Large
2016年03月 - 現在
団体区分：その他
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国際結晶学連合（ＩＵＣｒ） Committee member of Commision on Powder Diffraction
2014年08月 - 現在
団体区分：学協会
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日本結晶学会 情報委員
2010年04月 - 2012年03月
団体区分：学協会
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国際回折データセンター（ＩＣＤＤ） Regional Co-chair of Eastern Pacific Rim
2008年03月 - 現在
団体区分：その他
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日本セラミックス協会 東海支部ホームページ委員長
2006年06月 - 2021年03月
団体区分：学協会
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日本セラミックス協会 東海支部ＩＴ推進委員
2006年05月 - 現在
団体区分：学協会
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日本セラミックス協会 東海支部幹事
2005年02月 - 現在
団体区分：学協会