論文 - 矢野 佑典

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  • Improvement of ESD Damage Test Board for CMC for Automotive Ethernet 査読あり

    Hironori Ito, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, and Jianqing Wang

    IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications   6 ( 3 )   89 - 95   2024年09月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • A study on Reducing Cable Length Dependence for Automotive Ethernet EMC Evaluation 査読あり

    Hideki Iwasaki, Yusuke Yano, Jianqing Wang

    2024 IEEE Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity: EMC Japan/Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility   FriAM1B.5   656 - 656   2024年05月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Extraction of Parasitic Impedance Difference between Electronic Device Test Boards 査読あり

    Yoshika Iwaoka, Yusuke Yano, Jianqing Wang

    2024 IEEE Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity: EMC Japan/Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility   ThuPM1A.5   582 - 582   2024年05月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Measurement Method for Mixed-Mode S-Parameters of Termination Structures in Differential Communication Line 査読あり

    Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Jianqing Wang

    2024 IEEE Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity: EMC Japan/Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility   WedPM1A.2   337 - 337   2024年05月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Conducted Emission Evaluation of 1000BASE-RH Optical Ethernet Transceivers 査読あり

    Osami Wada, Yusuke Yano

    2024 IEEE Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity: EMC Japan/Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility   WedAM1D.3   275 - 278   2024年05月

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    担当区分:最終著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Circuit Model Construction for Simulating ESD Discharge Current Flowing through CMCs and ESD Suppression Devices 査読あり

    Hironori Ito, Shoma Ishihara, Yusuke Yano, Jianqing Wang

    2024 IEEE Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity: EMC Japan/Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility   WedAM1D.5   283 - 286   2024年05月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Batteryless BLE Module with a Piezoelectric Element Mounted on a Shoe Sole 査読あり

    Shusei Dan, Yusuke Yano, Jianqing Wang

    Sensors   24 ( 2829 )   1 - 13   2024年04月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.3390/s24092829

    DOI: 10.3390/s24092829

  • Measurement of Current Waveform Due to Different Load of ESD Gun, TLP-HMM, and CR-HMM 招待あり 査読あり

    Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, Jianqing Wang

    2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD)   2023年10月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Influence of cable length between TLP test system and DUT and its correction for CMC ESD saturation measurement 査読あり

    Yusuke Yano, Kazuha Ishida, Jianqing Wang, Takeshi Ishida

    IEICE Communications Express   1 - 7   2023年09月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1587/comex.2023XBL0064

    DOI: 10.1587/comex.2023XBL0064

  • Cable Height Dependence in Radiated Immunity Evaluation of Automotive Ethernet 100BASE-T1 査読あり

    Tohlu Matsushima, Akito Kagawa, Yusuke Yano, Yuki Fukumoto

    35th URSI General Assembly and Scientific Symposium (URSI GASS 2023)   E08-4   2023年08月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Investigation of Reducing Test System Dependence for Automotive Ethernet EMC Evaluation 査読あり

    Yusuke Yano, Hideki Iwasaki, and Jianqing Wang

    2023 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity (EMC+SIPI)   624 - 624   2023年08月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Improvement of TLP-HMM’s Load Dependence 査読あり

    Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, and Jianqing Wang

    2023 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity (EMC+SIPI)   381 - 381   2023年08月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Comparison of ESD Damage Test for Common Mode Chokes with ESD Gun and TLP-HMM 査読あり

    Hironiori Ito, Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Jianqing Wang, Takeshi Ishida, Masanori Sawada

    IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications (L-EMCPA)   5 ( 1 )   10 - 15   2023年03月

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    担当区分:責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1109/LEMCPA.2022.3222019

  • On-Chip Power Integrity Simulation Using LSI-Core Macromodels Considering Voltage Fluctuations Caused by Inter-Function-Block Interference 査読あり

    Hiroshi Tanaka, Tohlu Matsushima, Yusuke Yano, Osami Wada

    IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility   65 ( 1 )   334 - 342   2023年02月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1109/TEMC.2022.3224704

    DOI: 10.1109/TEMC.2022.3224704

  • 差動通信線終端構造に対するモード変換量測定方法 査読あり

    吉田 征弘, 矢野 佑典, 王 建青, 石田 武志

    電子情報通信学会論文誌B   J105-B ( 12 )   928 - 937   2022年12月

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    担当区分:責任著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.14923/transcomj.2022JBP3020

    DOI: 10.14923/transcomj.2022JBP3020

  • Influence of Cable Length Between TLP and DUT on ESD Saturation Measurement 査読あり 国際誌

    Yusuke Yano, Jianqing Wang, Takeshi Ishida

    2022 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC 2022)   1 - 1   2022年09月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Tubular Wave Couplerの妨害波注入特性の試験系依存性 査読あり

    矢野 佑典, 遠藤 光太, 和田 修己

    電子情報通信学会論文誌B   J105-B ( 8 )   621 - 628   2022年08月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.14923/transcomj.2021PEP0006

  • Measurement of Current Waveform Due to Different Load of ESD Gun, TLP-HMM, and CR-HMM 査読あり

    Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, Jianqing Wang

    2022 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity (EMC+SIPI)   ( TP-TH-PM2-TC2 )   603 - 603   2022年08月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

    DOI: 10.1109/EMCSI39492.2022.10050228

    DOI: 10.1109/EMCSI39492.2022.10050228

  • 車載EthernetのトランシーバICに対するPowered ESD試験の技術課題と検討 招待あり 査読あり

    矢野 佑典, 王 建青

    エレクトロニクス実装学会誌   25 ( 4 )   290 - 294   2022年07月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: https://doi.org/10.5104/jiep.25.290

    DOI: https://doi.org/10.5104/jiep.25.290

  • Compensating Method of Equivalent Current Sources of LSI-core Macro-model Considering Voltage Fluctuations in On-chip Power Distribution Network 査読あり 国際誌

    Hiroshi Tanaka, Tohlu Matsushima, Yusuke Yano, Osami Wada

    IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility   64 ( 4 )   1250 - 1256   2022年03月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:IEEE  

    DOI: 10.1109/TEMC.2022.3155471

  • 不平衡度制御による LVDS のコモンモード低減法 査読あり

    和田 修己, 齊藤 大晃, 矢野 佑典, 久門 尚史, 松嶋 徹

    電子情報通信学会論文誌B   J104-B ( 6 )   453 - 460   2021年06月

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    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.14923/transcomj.2020PEP0007

  • Evaluation of Side-channel Leakage Simulation by Using EMC Macro-model of Cryptographic Devices 査読あり

    Yusuke Yano, Kengo Iokibe, Toshiaki Teshima, Yoshitaka Toyota, Toshihiro Katashita and Yohei Hori

    IEICE TRANSACTIONS on Communications   E104.B ( 2 )   178 - 186   2021年02月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1587/transcom.2020EBP3015

  • Experimental investigation of communication quality degradation of 1000BASE-T1 by pulse disturbance 査読あり

    Yusuke Yano, Tohlu Matsushima and Osami Wada

    IEICE Communication Express (ComEX)   9 ( 12 )   593 - 598   2020年12月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1587/comex.2020COL0019

  • Investigation of Communication Quality Degradation of 1000BASE-T1 by Pulse Disturbance 査読あり 国際誌

    Yusuke Yano, Takashi Hisakado and Wada Osami

    2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE   2020年09月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Dimension Dependence of Transfer Characteristics of Tubular Wave Coupler and Improvement of Directivity 査読あり 国際誌

    Kota Endo, Yusuke Yano and Osami Wada

    2020 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE   2020年09月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Modifying Noise Source Amplitude Modulation Technique to Estimate Magnitude and Phase of Emissions from Individual Integrated Circuits 査読あり 国際誌

    Kengo Iokibe, Shimpei Yoshino, Yusuke Yano and Yoshitaka Toyota

    2019 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE   2019年09月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • A Method for Optimally Designing Snubber Circuits for Buck Converter Circuits to Damp LC Resonance 査読あり 国際誌

    Yusuke Yano, Naoki Kawata, Kengo Iokibe and Yoshitaka Toyota

    IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility   61 ( 4 )   1217 - 1225   2019年08月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1109/TEMC.2018.2841424

  • Experimental Identification of Relationship between Leakage Trace SNR and Correlation Coefficient in Differential Power Analysis 査読あり 国際誌

    Yusuke Yano, Toshiaki Teshima, Kengo Iokibe and Yoshitaka Toyota

    2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo (EMC Sapporo & APEMC 2019)   2019年06月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Improvement of Prediction Accuracy of Noise-source Equivalent-circuit Model Based on Parameter Extraction by Port Voltage/Current Measurement 査読あり 国際誌

    Uematsu Taishi, Yuhei Osaki, Yoshitaka Toyota, Yusuke Yano, Kengo Iokibe

    2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo (EMC Sapporo & APEMC 2019)   2019年06月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • ノイズ源振幅変調と相関解析に基づくノイズ源IC毎の電磁妨害波強度推定 査読あり

    吉野慎平, 五百旗頭健吾, 矢野佑典, 豊田啓孝

    エレクトロニクス実装学会誌   22 ( 3 )   218 - 225   2019年05月

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    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.5104/jiep.22.218

  • Extension of Signal-to-Noise Ratio Measurement Method to Byte-by-Byte Side-Channel Attack 査読あり 国際誌

    Kengo Iokibe, Toshiaki Teshima, Yusuke Yano and Yoshitaka Toyota

    2018 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC 2018)   2018年05月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Parameter Identification of Noise-source Linear Equivalent Circuit of DC-DC Converter and Its Evaluation 査読あり 国際誌

    Yuhei Osaki, Yusuke Yano, Kengo Iokibe and Yoshitaka Toyota

    2017 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC 2017)   2017年06月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • A Study of Linear Equivalent Circuit Modeling for Conducted Disturbance Estimation of Power Converter Circuit 査読あり 国際誌

    Yusuke Yano, Hiroki Geshi, Kengo Iokibe, Tetsushi Watanabe and Yoshitaka Toyota

    2016 URSI Asia-Pacific Radio Science Conference (AP-RASC 2016)   2016年08月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Signal-to-Noise Ratio Measurements of Side-Channel Traces for Establishing Low-Cost Countermeasure Design 査読あり 国際誌

    Yusuke Yano, Toshiaki Teshima, Kengo Iokibe and Yoshitaka Toyota

    2017 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC 2017)   2012年06月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Insertion of Parallel RL Circuits into Power Distribution Network for Simultaneous Switching Current Reduction and Power Integrity 査読あり 国際誌

    Kengo Iokibe, Yusuke Yano and Yoshitaka Toyota

    2012 Asia-Pacific Internationl Symposium on Electromagnetic Compatibility in Singapore (APEMC 2012)   2012年05月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

  • Increase of RF Power Current Due to Coupling between Power Distribution and IO Networks 査読あり 国際誌

    Kengo Iokibe, Yusuke Yano, Yoshitaka Toyota and Ryuji Koga

    2010 Asia-Pacific Radio Science Conference (AP-RASC'10)   2010年09月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)  

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