研究者詳細 - 矢野　佑典

論文 - 矢野　佑典

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Improvement of ESD Damage Test Board for CMC for Automotive Ethernet 査読あり

Hironori Ito, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, and Jianqing Wang

IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications 6 ( 3 ) 89 - 95 2024年09月

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

A study on Reducing Cable Length Dependence for Automotive Ethernet EMC Evaluation 査読あり

Hideki Iwasaki, Yusuke Yano, Jianqing Wang

2024 IEEE Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity: EMC Japan/Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility FriAM1B.5 656 - 656 2024年05月

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Extraction of Parasitic Impedance Difference between Electronic Device Test Boards 査読あり

Yoshika Iwaoka, Yusuke Yano, Jianqing Wang

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Measurement Method for Mixed-Mode S-Parameters of Termination Structures in Differential Communication Line 査読あり

Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Jianqing Wang

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Conducted Emission Evaluation of 1000BASE-RH Optical Ethernet Transceivers 査読あり

Osami Wada, Yusuke Yano

担当区分：最終著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Circuit Model Construction for Simulating ESD Discharge Current Flowing through CMCs and ESD Suppression Devices 査読あり

Hironori Ito, Shoma Ishihara, Yusuke Yano, Jianqing Wang

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Batteryless BLE Module with a Piezoelectric Element Mounted on a Shoe Sole 査読あり

Shusei Dan, Yusuke Yano, Jianqing Wang

Sensors 24 ( 2829 ) 1 - 13 2024年04月

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： 10.3390/s24092829

Measurement of Current Waveform Due to Different Load of ESD Gun, TLP-HMM, and CR-HMM 招待あり査読あり

Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, Jianqing Wang

2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD) 2023年10月

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Inﬂuence of cable length between TLP test system and DUT and its correction for CMC ESD saturation measurement 査読あり

Yusuke Yano, Kazuha Ishida, Jianqing Wang, Takeshi Ishida

IEICE Communications Express 1 - 7 2023年09月

担当区分：筆頭著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： 10.1587/comex.2023XBL0064

Cable Height Dependence in Radiated Immunity Evaluation of Automotive Ethernet 100BASE-T1 査読あり

Tohlu Matsushima, Akito Kagawa, Yusuke Yano, Yuki Fukumoto

35th URSI General Assembly and Scientific Symposium (URSI GASS 2023) E08-4 2023年08月

記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Investigation of Reducing Test System Dependence for Automotive Ethernet EMC Evaluation 査読あり

Yusuke Yano, Hideki Iwasaki, and Jianqing Wang

2023 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity (EMC+SIPI) 624 - 624 2023年08月

担当区分：筆頭著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Improvement of TLP-HMM’s Load Dependence 査読あり

Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, and Jianqing Wang

2023 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity (EMC+SIPI) 381 - 381 2023年08月

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Comparison of ESD Damage Test for Common Mode Chokes with ESD Gun and TLP-HMM 査読あり

Hironiori Ito, Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Jianqing Wang, Takeshi Ishida, Masanori Sawada

IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications (L-EMCPA) 5 ( 1 ) 10 - 15 2023年03月

担当区分：責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： 10.1109/LEMCPA.2022.3222019

On-Chip Power Integrity Simulation Using LSI-Core Macromodels Considering Voltage Fluctuations Caused by Inter-Function-Block Interference 査読あり

Hiroshi Tanaka, Tohlu Matsushima, Yusuke Yano, Osami Wada

IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 65 ( 1 ) 334 - 342 2023年02月

記述言語：英語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： 10.1109/TEMC.2022.3224704

差動通信線終端構造に対するモード変換量測定方法査読あり

吉田　征弘, 矢野　佑典, 王　建青, 石田　武志

電子情報通信学会論文誌B J105-B ( 12 ) 928 - 937 2022年12月

担当区分：責任著者記述言語：日本語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： 10.14923/transcomj.2022JBP3020

Influence of Cable Length Between TLP and DUT on ESD Saturation Measurement 査読あり国際誌

Yusuke Yano, Jianqing Wang, Takeshi Ishida

2022 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC 2022) 1 - 1 2022年09月

担当区分：筆頭著者,　責任著者記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Tubular Wave Couplerの妨害波注入特性の試験系依存性査読あり

矢野　佑典, 遠藤　光太, 和田　修己

電子情報通信学会論文誌B J105-B ( 8 ) 621 - 628 2022年08月

担当区分：筆頭著者,　責任著者記述言語：日本語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： 10.14923/transcomj.2021PEP0006

Measurement of Current Waveform Due to Different Load of ESD Gun, TLP-HMM, and CR-HMM 査読あり

Masahiro Yoshida, Yusuke Yano, Takeshi Ishida, Jianqing Wang

2022 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal & Power Integrity (EMC+SIPI) ( TP-TH-PM2-TC2 ) 603 - 603 2022年08月

記述言語：英語掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

DOI： 10.1109/EMCSI39492.2022.10050228

車載EthernetのトランシーバICに対するPowered ESD試験の技術課題と検討招待あり査読あり

矢野　佑典, 王　建青

エレクトロニクス実装学会誌 25 ( 4 ) 290 - 294 2022年07月

担当区分：筆頭著者,　責任著者記述言語：日本語掲載種別：研究論文（学術雑誌）

DOI： https://doi.org/10.5104/jiep.25.290

Compensating Method of Equivalent Current Sources of LSI-core Macro-model Considering Voltage Fluctuations in On-chip Power Distribution Network 査読あり国際誌

Hiroshi Tanaka, Tohlu Matsushima, Yusuke Yano, Osami Wada

IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 64 ( 4 ) 1250 - 1256 2022年03月

記述言語：英語掲載種別：研究論文（学術雑誌）出版者・発行元：IEEE

DOI： 10.1109/TEMC.2022.3155471

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