久保 俊晴 (クボ トシハル)

KUBO Toshiharu

写真a

所属学科・専攻等

電気・機械工学教育類 電気電子分野
電気・機械工学専攻 電気電子分野
極微デバイス次世代材料研究センター

職名

准教授

外部リンク

学位

  • 博士(工学) ( 2005年05月   慶應義塾大学 )

研究分野

  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 電子デバイス、電子機器  / 電子デバイス

  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 電気電子材料工学  / 電子デバイス

  • ナノテク・材料 / 応用物性

出身学校

  • 慶應義塾大学   理工学部   物理情報工学科   卒業

    1995年04月 - 1999年03月

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    国名:日本国

出身大学院

  • 慶應義塾大学   理工学研究科   基礎理工学専攻   博士課程   修了

    1999年04月 - 2005年05月

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    国名:日本国

学外略歴

  • 東京大学   大学院工学系研究科   大学等非常勤研究員

    2005年10月 - 2008年12月

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    国名:日本国

  • 北海道大学   量子集積エレクトロニクス研究センター   大学等非常勤研究員

    2008年12月 - 2010年03月

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    国名:日本国

所属学協会

  • 電子情報通信学会電子デバイス研究会

    2018年04月 - 現在

  • 応用物理学会応用電子物性分科会

    2014年04月 - 現在

  • 日本応用物理学会

    2009年12月 - 現在

取得資格

  • 高圧ガス製造保安責任者(化学機械・冷凍機械)

 

研究経歴

  • 絶縁膜/GaN界面の電子準位

    その他の研究制度  

    研究期間: 2010年04月 - 現在

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    絶縁膜/GaN界面の電子状態を調べている。

  • 高Al組成AlGaNの表面特性

    その他の研究制度  

    研究期間: 2008年12月 - 2010年03月

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    高いAl組成を有するAlGaN層の表面状態を調べた。

  • 中性子照射による炭素化合物の特性改良

    その他の研究制度  

    研究期間: 2005年10月 - 2008年12月

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    中性子照射によりフラーレン超伝導体の物理特性の改善を行った。

  • グラファイトの電気伝導に関する研究

    その他の研究制度  

    研究期間: 1998年04月 - 2005年10月

論文

  • Improved reverse-bias breakdown behavior in fully-vertical GaN-on-Si Schottky barrier diodes with a thin AlN layer within the GaN drift layer 査読あり

    A. Mase, P. Dalapati, R. Hayafuji, T. Kubo, M. Miyoshi, T. Egawa

    Semiconductor Science and Technology   38   095005-1 - 095005-6   2023年08月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Improved field-effect mobility in transfer-free graphene films synthesized via the metal agglomeration technique using high-crystallinity Ni catalyst films 査読あり

    Toshiharu Kubo, Akira Takahashi, Makoto Miyoshi, Takashi Egawa

    Applied Physics Express   14   116503   2021年10月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:IOPscience  

    DOI: 10.35848/1882-0786/ac30ed

  • Bias-controlled photocurrent generation process in GaN-based ultraviolet p–i–n photodetectors fabricated with a thick Al2O3 passivation layer 査読あり

    PradipDalapati, KosukeYamamoto, ToshiharuKubo, TakashiEgawa, MakotoMiyoshi

    Optik   245   167691   2021年07月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier  

    DOI: 10.1016/j.ijleo.2021.167691

  • High-breakdown-voltage AlGaN-channel metal-insulator-semiconductor heterostructure field-effect transistors employing a quaternary AlGaInN barrier layer and an Al2O3 gate insulator 査読あり 国際誌

    Daiki Hosomi, Keita Furuoka, Heng Chen, Saki Saito, Toshiharu Kubo, Takashi Egawa, and Makoto Miyoshi

    Journal of Vacuum Science & Technology B   37   041205-1 - 041205-4   2019年07月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Electron-spin-resonance studies of AlGaN/GaN MIS-HEMT structures with Al2O3 fabricated by atomic layer deposition 査読あり 国際誌

    Toshiharu Kubo, Takashi Egawa

    Physica B   571   210 - 212   2019年07月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Trap state characterization of Al2O3/AlInGaN/GaN metal-insulator-semiconductor heterostructures 査読あり 国際誌

    Debaleen Biswas, Naoki Torii, Hirotaka Fujita, Takahiro Yoshida, Toshiharu Kubo and Takashi Egawa

    Semiconductor Science and Technology   34   055014-1 - 055014-6   2019年04月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Experimental evidence of the existence of multiple charged states at Al2O3/GaN interfaces 査読あり 国際誌

    Noriyuki Taoka, Toshiharu Kubo, Toshikazu Yamada, Takashi Egawa and Mitsuaki Shimizu

    Semiconductor science and Technology   34   025009-1 - 025009-7   2019年01月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Impacts of oxidants in atomic layer deposition method on Al2O3/GaN interface properties 査読あり

    N. Taoka, T. Kubo, T. Yamada, T. Egawa, M. Shimizu

    Jpn. J. Appl. Phys.   57   01AD04-1 - 01AD04-5   2017年12月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Electrical characteristics and interface properties of ALD-HfO2/AlGaN/GaN MIS-HEMTs fabricated with post-deposition annealing 査読あり 国際誌

    Toshiharu Kubo, Takashi Egawa

    Semiconductor Science and Technology   32   125016-1 - 125016-5   2017年11月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  • Understanding of frequency dispersion in C-V curves of metal-oxide-semiconductor capacitor with wide-bandgap semiconductor 査読あり 国際誌

    N. Taoka, T. Kubo, T. Yamada, T. Egawa, M. Shimizu

    Microelectronic Engineering   178   182 - 185   2017年06月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

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講演・口頭発表等

  • ALDにより形成した絶縁膜を有するAlGaN/GaN MIS-HFETに対する ゲートリセスエッチング後表面処理の効果

    久保俊晴、江川孝志

    電子情報通信学会11月研究会  2023年11月  電子情報通信学会

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    開催年月日: 2023年11月 - 2023年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:アクト浜松  

  • Effects of surface treatments after gate recess etching on AlGaN/GaN MIS-HFETs with an ALD-SiO2/Al2O3 double insulator 国際会議

    T. Kubo, T. Egawa

    2023年11月  JSAP

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    開催年月日: 2023年11月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:Fukuoka Sea Hawk   国名:日本国  

  • 極微細構造を有する厚いNiパターンの凝集現象を用いたサファイア基板上転写フリーグラフェンFETの作製

    加藤一朗、久保俊晴、三好実人、江川孝志

    第84回応用物理学会秋季学術講演会  2023年09月  日本応用物理学会

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    開催年月日: 2023年09月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:熊本城ホール  

  • 極微細構造を有するNiパターンの凝集現象を用いたサファイア基板上転写フリーグラフェンFETの作製

    加藤一朗、久保俊晴、三好実人、江川孝志

    第70回応用物理学会春季学術講演会  2023年03月  日本応用物理学会

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    開催年月日: 2023年03月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:上智大学  

  • Estimation of Electrical Characteristics of Gate-Recessed AlGaN/GaN MIS-HEMTs with Surface Treatment 国際会議

    K. Toda, T. Kubo, T. Egawa

    ISPlasma 2023  2023年03月  JSAP

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    開催年月日: 2023年03月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:Gifu University   国名:日本国  

  • Transfer-Free Graphene Synthesis on Sapphire Substrates Utilizing the Agglomeration Phenomenon of the Ni Pattern with Fine Structure 国際会議

    I. Kato, T. Kubo, M. Miyoshi, T. Egawa

    2023年03月  JSAP

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    開催年月日: 2023年03月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:Gifu University   国名:日本国  

  • リセス構造形成後表面処理を施したAlGaN/GaN MIS-HEMTの電気特性評価

    戸田圭太郎, 久保俊晴, 江川孝志

    電子情報通信学会11月研究会  2022年11月  電子情報通信学会

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    開催年月日: 2022年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:ウィンクあいち + オンライン   国名:日本国  

  • Transfer-free graphene synthesis utilizing the agglomeration phenomenon of the Ni pattern 招待あり 国際会議

    Toshiharu Kubo, Ichiro Kato, Makoto Miyoshi, Takashi Egawa

    2022年10月 

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    開催年月日: 2022年10月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:Busan + Online   国名:大韓民国  

  • 極微細構造を有するNiパターンの凝集現象を用いたサファイア基板上転写フリーグラフェン膜の作製

    加藤一朗, 久保俊晴, 三好実人, 江川孝志

    第83回応用物理学会秋季学術講演会  2022年09月 

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    開催年月日: 2022年09月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:東北大学 + オンライン   国名:日本国  

  • AlGaN/GaN MIS-HEMTにおけるリセス構造形成後表面処理の効果

    戸田圭太郎, 久保俊晴, 江川孝志

    第83回応用物理学会秋季学術講演会  2022年09月  日本応用物理学会

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    開催年月日: 2022年09月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:東北大学 + オンライン   国名:日本国  

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産業財産権

  • ゲート絶縁膜の形成方法、および、ゲート絶縁膜

    座間秀昭, 小林忠正, 久保俊晴, 江川孝志

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    出願番号:2017-20109  出願日:2017年02月

    出願国:国内   取得国:国内

  • グラフェンデバイスおよびその製造方法

    三好実人, 久保俊晴, 江川孝志

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    出願番号:2015-212450  出願日:2015年10月

    出願国:国内   取得国:国内

受賞

  • ISPlasma2017/IC-PLANTS2017 Best Presentation Award

    2017年03月   ISPlasma2017/IC-PLANTS2017 Committee  

    N. Taoka, T. Kubo, T. Yamada, T. Egawa, M. Shimizu

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    受賞区分:国際学会・会議・シンポジウム等の賞  受賞国:日本国

科研費(文科省・学振)獲得実績

  • Si基板上GaN縦型パワーデバイスの低抵抗および高耐圧化に関する研究

    研究課題/領域番号:23H01464  2023年04月 - 2026年03月

    日本学術振興会  科学研究費補助金  基盤研究(B)

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    担当区分:研究代表者  資金種別:競争的資金

  • 極微細金属パターン付き基板による高性能低消費電力グラフェンFETの作製

    2019年04月 - 2022年03月

    科学研究費補助金  基盤研究(C)

その他競争的資金獲得実績

  • 極微細金属パターン付き基板による高性能低消費電力グラフェンFETの作製

    2022年04月 - 2023年03月

    名古屋工業大学  学内研究推進経費 

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    担当区分:研究代表者 

    配分額:2000000円 ( 直接経費:2000000円 )

  • Si基板上GaNパワーデバイスの性能を向上させるゲート構造用絶縁膜の開発

    2020年06月 - 2021年03月

    民間財団等  内藤科学技術振興財団 助成金 

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    資金種別:競争的資金

  • 極微細金属パターン付き基板を用いた高性能グラフェン FET の作製

    2019年04月 - 2020年03月

    民間財団等  村田財学術振興財団第35回学術助成金 

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    資金種別:競争的資金

  • 新しいグラフェン合成プロセスの開発とエネルギー利用効率化への展開

    2016年04月 - 2017年03月

    民間財団等  東燃ゼネラル石油研究奨励・奨学財団研究助成 

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    資金種別:競争的資金

    エネルギーの効率的な利用に向け、計算機で消費される電力の削減のため、2次元物質であるグラフェンデバイスの普及に向けたデバイス開発を
    行う。

受託研究受入実績

  • 低炭素社会を実現する次世代パワーエレクトロニクスプロジェクト/GaNパワーデバイス等の実用化加速技術開発

    2017年04月 - 2020年03月

    政府機関  一般受託研究 

    江川孝志

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    担当区分:研究分担者 

共同研究実施実績

  • GaN-HEMTを高出力化するゲート絶縁膜プロセス開発に関する共同研究

    2016年04月 - 2017年03月

    株式会社アルバック  国内共同研究 

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    GaN-HEMTパワーデバイスの実現へ向け、良好な特性を有するゲート絶縁膜の開発をアルバックと共同して行う。

 

教育活動に関する受賞

  • 論文発表奨励賞

    2018年11月   電子情報通信学会電子デバイス研究会

 

委員歴

  • 電子情報通信学会電子デバイス研究会   委員  

    2018年04月 - 現在   

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    団体区分:学協会

  • 日本応用物理学会   IWN2018(金沢)実行委員会・現地実行委員  

    2016年10月 - 2018年11月   

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    団体区分:学協会

  • 日本応用物理学会   IWUMD2017(福岡)実行委員会・寄付/展示委員  

    2016年10月 - 2017年11月   

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    団体区分:学協会

  • 応用物理学会応用電子物性分科会   幹事  

    2014年04月 - 現在   

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    団体区分:その他

  • ISPlasma2011実行委員会   実行委員  

    2010年11月 - 2011年03月   

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    団体区分:その他

社会貢献活動

  • 計測分析に関する講演会

    役割:講師

    あいち産業科学技術総合センター  あいち産業科学技術総合センター本部 講習会室  2016年12月

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    対象: 研究者

    種別:講演会