MISC - 井田　隆

粉末回折データに対する逆畳み込み・畳み込み処理の考え方 査読あり

井田隆

名古屋工業大学先進セラミックス研究センター年報 (2016)   5   37 - 43   2017年06月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要）   出版者・発行元：名古屋工業大学先進セラミックス研究センター  

最近著者の提案した粉末回折データに対する「逆畳み込み・畳み込み処理」の核となる考え方を紹介する。この方法はＸ線源の現実的な分光プロファイルと、ブラッグ・ブレンターノ型粉末回折計の軸発散収差の精密な近似形式に関するキュムラント解析の結果に基づく。現実の粉末回折データをこの方法により処理し、回折ピークが左右対称な単一ピーク形状をとり、汚染による不要ピークも効果的に除去されることを示す。

ICDD の活動 査読あり

井田隆

名古屋工業大学先進セラミックス研究センター年報 (2015)   4   12 - 19   2016年07月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要）   出版者・発行元：名古屋工業大学先進セラミックス研究センター  

国際回折データセンター International Center for Diffraction Data (ICDD) の活動について述べる。ICDD は粉末回折データの収集・編集・維持・出版・配布をするための非営利かつ非政府の科学組織である。ICDD のメンバーは世界的な学術界・公的機関・産業界からの代表から構成される。ICDD は多様な方法を通じて科学者コミュニティに対して援助も行っている。

構造解析におけるベイズ推定の応用 査読あり

井田隆

名古屋工業大学先進セラミックス研究センター年報 (2014)   3   11 - 16   2015年07月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要）   出版者・発行元：名古屋工業大学先進セラミックス研究センター  

実験データに基づき統計的な推定をするための基本的な概念：(i) ベイズ推定、(ii) 最大事後確率推定、(iii) 最尤推定、(iv) 最小二乗推定について述べる。ベイズ推定とは日本の高校数学の教科書に「条件つき確率」として記載されているものとまったく同じである。ベイズ推定はどのような偏見・先入観・思い込みも許容し、それを捨てることも強要しない。ベイズ推定の基本的な考え方は、「絶対的な真実には到達することができない」ということと、しかし同時に「常に真実に近づくことはできる」ということをあからさまに仮定する。Ｘ線回折測定に基づいた結晶構造解析においてベイズ推定を応用する単純な例について提案する。

入門講座 分析化学における放射光の利用 粉末X線回折

井田隆

ぶんせき   2015年 ( 2月 )   2015年02月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ）   出版者・発行元：日本分析化学会  

Advanced Methods for Powder Diffraction Anallysis - II

Takashi Ida

Journal of the Technical Association of Refractories, Japan   34 ( 4 )   237 - 242   2014年12月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ）   出版者・発行元：The Technical Association of Refractories, Japan  

Advanced Methods for Powder Diffraction Analysis - I

Takashi Ida

Journal of the Technical Association of Refractories, Japan   34 ( 4 )   232 - 236   2014年12月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ）   出版者・発行元：The Technical Association of Refractories, Japan  

X線回折法による結晶子サイズ評価

井田隆

セラミックス   49 ( 3 )   157 - 162   2014年03月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ）   出版者・発行元：日本セラミックス協会  

Ｘ線粉末解析の最新技術－２

井田 隆

耐火物   65 ( 10 )   470 - 475   2013年10月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要）   出版者・発行元：耐火物協会  

Ｘ線粉末解析の最新技術ー１

井田 隆

耐火物   65 ( 8 )   348 - 353   2013年08月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ）   出版者・発行元：耐火物協会  

Particle statistics in synchrotron powder diffractometry

T. Ida, T. Goto, A. Oya, H. Hibino

Photon Factory Activity Report 2009   27 ( B )   271 - 271   2011年03月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：Photon Factory  

粉末回折法の使い方（５）―物質の同定と定性分析、データベースの利用―

井田隆

Journal of Flux Growth   5 ( 2 )   48 - 54   2010年11月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）   出版者・発行元：日本フラックス成長研究会  

装置関数との畳み込みによる粉末回折ピークのモデルプロファイル関数

井田隆

理学電機ジャーナル   32 ( 1 )   24 - 33   2001年04月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（その他）   出版者・発行元：理学電機  

基礎パラメータ法による粉末回折ピークのプロファイルフィッティング

井田隆

名古屋工業大学セラミックス研究施設年報   9   1 - 7   1999年03月

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記述言語：日本語   掲載種別：記事・総説・解説・論説等（大学・研究所紀要）   出版者・発行元：名古屋工業大学