講演・口頭発表等 - 井田 隆
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Experimental estimation of statistical errors in powder diffraction data by using a semiconductor strip type x-ray detector 国際会議
Takashi Ida
The 18th Converence of the Asian Crystallographic Association 2024年12月 Asian Crystallographic Society
開催年月日： 2024年12月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Kuala Lumpur 国名：マレーシア
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Deconvolutional treatment on sample transparency aberration at low angles 国際会議
Takashi Ida
Denver X-ray Conference 2024年08月 International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2024年08月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Westminster, CO 国名：アメリカ合衆国
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Bragg-Brentano 型 XRD 測定システムの軸発散収差
井田隆
日本結晶学会年会 2023年10月 日本結晶学会
開催年月日： 2023年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：山口大学常盤キャンパス（宇部） 国名：日本国
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Powder diffraction intensities of α-Al2O3 国際会議
Takashi Ida
IUCr Congress 2023 2023年08月
開催年月日： 2023年08月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Melbourne 国名：オーストラリア連邦
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Which is the strongest peak among 104, 113 & 116-reflections of corundum? 国際会議
Takashi Ida
ICDD Spring Meetings 2023年03月 International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2023年03月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Concordville, PA 国名：アメリカ合衆国
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コランダム回折強度の密度汎函数理論計算
井田隆
日本結晶学会年会 2022年11月 日本結晶学会
開催年月日： 2022年11月
記述言語：日本語 会議種別：ポスター発表
開催地：西宮 国名：日本国
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反射型粉末回折測定における有限な試料厚さと試料幅の効果
井田隆
日本結晶学会年会 2022年11月 日本結晶学会
開催年月日： 2022年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：西宮 国名：日本国
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Effect of finite width of specimen on sample transparency aberration in Bragg-Brentano geometry 国際会議
Takashi Ida
Denver X-ray Conference 2022年08月 International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2022年08月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Bethesda, MD 国名：アメリカ合衆国
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集中法反射型粉末回折測定における有限厚さ試料の透過性の効果
井田 隆
日本結晶学会年会 日本結晶学会
開催年月日： 2021年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン
反射型の粉末回折測定では，通常はＸ線侵入深さに比べて試料が充分な厚みを持つことを前提とする。試料の厚さが有限な場合，試料の透過性の効果は，回折角依存性の異なる減衰効果と打ち切り効果の二重の畳込として表現される。打ち切り効果に関する逆畳込的処理はピークのブロードニングをもたらすが，ピーク形状が尖鋭化し，ピーク分離の目的で不利にならないことがわかった。
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シリコンストリップ型Ｘ線検出器の連続走査積算により収集された粉末回折データにおける赤道収差
井田 隆
日本結晶学会年会 日本結晶学会
開催年月日： 2020年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン
シリコンストリップ型Ｘ線検出器の連続走査積算により収集された粉末回折データにおける赤道収差の数学的な形式と逆畳み込み的な処理について述べた。
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T. Ida
Denver X-ray Conference International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2020年08月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Virtual event
Current data acquisition system of a laboratory powder X-ray diffractometer with a silicon strip X-ray detector (SSXD) usually support a continuous scan integration method, where output counts from each of detector strips are added to the total counts for appropriate -bin of the output data storage. An explicit approximate formula of the equatorial aberration function has been derived.
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Treatment of powder X-ray diffraction data collected with a Bragg-Brentano diffractometer with a Cu K X-ray source and a Ni-foil filter 国際会議
Takashi Ida
AsCA 2019
開催年月日： 2019年12月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
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Powder Diffraction Method with Laboratory & Synchrotron Sources of X-ray 国際会議
Takashi Ida
Pacific Rim Conference of Ceramic Societies Pacrim13 Organizing Committee
開催年月日： 2019年10月 - 2019年11月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Okinawa Convention Center, Ginowan, Okinawa
Recent advancements of powder diffraction methods with laboratory & synchrotron sources of X-ray are presented.
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ICDD の活動 2019 招待あり
井田隆
東海若手セラミスト懇話会2019年夏期セミナー 日本セラミックス協会東海若手セラミスト懇話会
開催年月日： 2019年06月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：グリーンホテル三ヶ根、西尾
2019年のICDDの活動について紹介した。
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Further Improvements of Deconvolution Convolution Method for Powder XRD Data 国際会議
Takashi Ida
ICDD 2019 Spring Meetings International Centre for Diffraction Data
開催年月日： 2019年03月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Newtown Square, PA, USA
Recent improvement about deconvolution-convolution method for powder XRD data are presented.
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通常光源とシンクロトロン光源を用いた粉末Ｘ線回折 招待あり
井田隆
Ｘ線分析研究懇談会 Ｘ線分析研究懇談会
開催年月日： 2019年01月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：あいち産業科学技術総合センター
通常光源とシンクロトロン光源を用いた粉末Ｘ線回折の最新の技術について述べる。
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Automation of deconvolution-convolution treatment on powder X-ray diffraction data 国際会議
Takashi Ida
AsCA 2018
開催年月日： 2018年12月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
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粉末Ｘ線回折データに対する逆畳み込み・畳み込み処理の自動化
井田隆,野村勝裕
日本結晶学会年会 日本結晶学会
開催年月日： 2018年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：東京工業大学大岡山キャンパス
粉末Ｘ線回折データに対する逆畳み込み・畳み込み処理の自動化について述べる。
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逆畳み込み・畳み込み計算による粉末回折データ処理
井田隆
Ｘ線分析討論会 日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会
開催年月日： 2018年10月
記述言語：日本語 会議種別：ポスター発表
開催地：東京理科大学神楽坂キャンパス
逆畳み込み・畳み込み計算による粉末回折データの処理に関する研究の成果を発表した。
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通常光源と放射光源を使った粉末回折 招待あり
井田隆
黒田・太田シンポジウム
開催年月日： 2018年08月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：立命館大学びわこ・くさつキャンパス
通常光源と放射光源を用いた粉末回折研究に関する最近の成果を紹介した。
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