|
所属学科・専攻等 |
情報工学科 メディア情報分野
|
|
職名 |
准教授 |
|
外部リンク |
|
出身大学院
-
名古屋工業大学 工学研究科 電気情報工学 博士課程 修了
- 1991年03月
国名：日本国
-
名古屋工業大学 工学研究科 電気情報工学 修士課程 修了
- 1987年03月
国名：日本国
論文
-
Authenticity Determination System Based on Image Matching Using Local Features 査読あり 国際誌
Ryota Fujimura, Tomio Goto, Satoshi Hirano
IEEE Global Conference on Consumer Electronics (GCCE2019) Proceeding 2019年10月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Improvement of Authenticity Inspection Accuracy Using Logo Region Detection 査読あり 国際誌
Ryo Inoue, Tomio Goto, Satoshi Hirano, Son Lam Phung
International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2019) Proceeding 2019年01月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Improvement of Face Image Super-Resolution by High-Precision Skin Color Detection 査読あり 国際誌
Keigo Kano, Tomio Goto, Satoshi Hirano, Son Lam Phung
International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2019) Proceeding 2019年01月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
A Study on Moving Image Noise Removal Using 3-D and Time-Domain Total Variation Regularization Method 査読あり 国際誌
Tsubasa Munezawa, Tomio Goto, Satoshi Hirano, Son Lam Phung
International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2019) Proceeding 2019年01月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Performance Improvement of Face Image Super-Resolution Processing by High-Precision Skin Color Detection 査読あり 国際誌
Kano Keigo, Tomio Goto, Satoshi Hirano
2018 International Conference on Digital Medicine and Image Processing 2018年11月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Improving Accuracy for Authenticity Inspection of Brand Items Using Logo Region Detection Processing 査読あり 国際誌
Ryo Inoue, Tomio Goto, Satoshi Hirano
2018 International Conference on Digital Medicine and Image Processing 2018年11月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Accuracy Improvement of Image Recognition by Contrast Correction for Autonomous Drone Flights 査読あり 国際誌
Aoto Hasegawa, Tomio Goto, Satoshi Hirano
IEEE Global Conference on Consumer Electronics (GCCE2018) Proceeding 45 - 46 2018年10月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
High-Precision Evaluation System Using High-Order Digital ΔΣ Modulator for Digital Audio System 査読あり 国際誌
Yoshiaki Otsu, Junya Hattori, Satoshi Hirano, Tomio Goto
IEEE Global Conference on Consumer Electronics (GCCE2018) Proceeding 499 - 500 2018年10月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Blind Blur Image Restoration for High-resolution Images 査読あり 国際誌
Ryohei Teranishi, Tomio Goto, Satoshi Hirano
IEEE Global Conference on Consumer Electronics (GCCE2018) Proceeding 533 - 534 2018年10月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
-
Super-Resolution Technique Utilizing A Non-linear Filter for Facial Images 査読あり 国際誌
Kano Keigo, Tomio Goto, Satoshi Hirano
IEEE Global Conference on Consumer Electronics (GCCE2018) Proceeding 535 - 536 2018年10月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
講演・口頭発表等
-
1bit信号を用いたΔΣ変調器測定システムの性能評価手法に関する研究
大崎 直紀, 平野 智
電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会
開催年月日： 2021年03月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン開催
-
精度を考慮した遺伝的アルゴリズムによる∆Σ変調器の最適設計に関する研究
野宮 涼雅, 平野 智
電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会
開催年月日： 2021年03月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン開催
-
微小信号に対する最適ディザ選択手法の有効性の検討
小谷 侑士, 平野 智
電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会
開催年月日： 2021年03月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン開催
-
1ビット信号処理を用いた超音波距離推定のFPGA実装
高橋 怜生, 平野 智
電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会
開催年月日： 2021年03月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：オンライン開催
-
Authenticity Determination System Based on Image Matching Using Local Features 国際会議
Ryota Fujimura, Tomio Goto, Satoshi Hirano
IEEE Global Conference on Consumer Electronics (GCCE2019) IEEE
開催年月日： 2019年10月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：千里ライフサイエンスセンター
-
1bit 信号によるΔΣ変調器の評価手法における計測再現性の向上
鶴田 大紀, 大津 慶明, 平野 智, 後藤 富朗
電気・電子・情報関係学会 東海支部連合大会 電気・電子・情報関係学会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：大同大学
-
局所特徴量を用いた画像マッチング手法に基づく真贋判定システム
藤村 亮汰, 後藤 富朗, 平野智
電気・電子・情報関係学会 東海支部連合大会 電気・電子・情報関係学会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：大同大学
-
A Study on Moving Image Noise Removal Using 3-D and Time-Domain Total Variation Regularization Method 国際会議
Tsubasa Munezawa, Tomio Goto, Satoshi Hirano, Son Lam Phung
International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2019) Nanyang Technological University
開催年月日： 2019年01月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：シンガポール
-
Improvement of Authenticity Inspection Accuracy Using Logo Region Detection 国際会議
Ryo Inoue, Tomio Goto, Satoshi Hirano, Son Lam Phung
International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2019) Nanyang Technological University
開催年月日： 2019年01月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：シンガポール
-
Improvement of Face Image Super-Resolution by High-Precision Skin Color Detection 国際会議
Keigo Kano, Tomio Goto, Satoshi Hirano, Son Lam Phung
International Workshop on Advanced Image Technology (IWAIT2019) Nanyang Technological University
開催年月日： 2019年01月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：シンガポール