講演・口頭発表等 - 泉 隼人
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Test method of electrical characteristic under two-directional deformation for flexible electro-mechanical devices, 3rd report 国際会議
H.Izumi
2024年05月
開催年月日： 2024年05月
記述言語：英語
開催地：Jeju Island 国名：大韓民国
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Test method of electrical characteristic under two-directional deformation for flexible electro-mechanical devices, 2nd report 国際会議
H.Izumi
2023年11月
開催年月日： 2023年11月 - 2024年11月
記述言語：英語
開催地：Frankfurt 国名：ドイツ連邦共和国
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切欠き先端近傍のせん断応力場におけるシリコンの結晶すべり系と疲労損傷
杉山裕子，泉隼人，神谷庄司
日本機械学会2023年度年次大会 2023年09月
開催年月日： 2023年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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Test method of electrical characteristics under two-directional bending deformation for flexible electro-mechanical devices 国際会議
International Electrotechnical Commision 2022 general meeting 2022年11月
開催年月日： 2022年10月 - 2022年11月
記述言語：英語
開催地：San Francisco 国名：アメリカ合衆国
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A novel method of systematic quantitative characterization for the mechanical robustness of flexible thin film devices against repeated bending deformation 国際会議
H. Izumi, M. Nomura, Y. Haga, H. Sugiyama, S. Kamiya
18th International Conference on Plasma Surface Engineering (PES2022) 2022年09月
開催年月日： 2022年09月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Erfurt 国名：ドイツ連邦共和国
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繰返し圧縮負荷による結晶欠陥集積とき裂進展の電子顕微鏡観察
杉山裕子, 泉隼人, 神谷庄司
日本機械学会2019年度年次大会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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繰返し曲げ変形による印刷有機半導体フレキシブルマイクロトランジスタの性能劣化挙動
W. Li, Q. Sun, S. Kamiya, N. Shishido, H. Izumi, T. Sekine, M. Koganemaru, T. Minari
日本機械学会2019年度年次大会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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極薄シリコンチップの曲げ強度測定
灰本隆志，松崎栄，川合章仁，泉隼人，神谷庄司
日本機械学会2019年度年次大会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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Peformance Deterioration Characteristics of Silver-Nanoparticle-Printed Flexible Electric Wirings under Severe Bending Deformation 国際会議
S. Kamiya, H. Izumi, T. Sekine, Y. Haga, H. Sugiyama, N. Shishido, M. Koganemaru
46th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
開催年月日： 2019年05月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
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第29回定例会 APCOT2018参加報告 招待あり
泉隼人
有機機能材料のリソグラフィ加工コンソーシアム
開催年月日： 2018年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
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Increasing the ductility of single crystalline silicon treated by hydrogen plasma 国際会議
H. Izumi, M. Nakamura, S. Kamiya
16th International Conference on Plasma Surface Engineering
開催年月日： 2018年09月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
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印刷有機薄膜トランジスタの曲げ変形による損傷と電気特性変動 国際会議
宍戸信之，泉隼人，関根智仁，杉山裕子，神谷庄司，小金丸正明
日本機械学会2018年度年次大会
開催年月日： 2018年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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フレキシブル基板上に印刷された銀粒子配線の曲げ疲労損傷挙動とその評価
神谷庄司，泉隼人，関根智仁，杉山裕子，芳賀康子，宍戸信之，小金丸正明
日本機械学会2018年度年次大会
開催年月日： 2018年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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Bending Durability of Organic Thin Film Transistor and Stress Sensing using Mechanoluminecence 国際会議
H. Izumi, Y. Haga, N. Shishido, S. Kamiya
The 9th Asia-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano Technology (APCOT 2018)
開催年月日： 2018年06月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
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Plastic Deformation Enhanced Silicon Surface by Synergistic Effect between Defect and Hydrogen 国際会議
H. Izumi, M. Nakamura, S. Kamiya
The 9th Asia-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano Technology (APCOT 2018)
開催年月日： 2018年06月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
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応力発光を用いた積層構造フィルムの屈曲変形に伴う損傷挙動の評価
泉隼人，芳賀康子，宍戸信之，神谷庄司
日本機械学会東海支部第67期総会・講演会
開催年月日： 2018年03月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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反応性イオンエッチングを施した単結晶シリコン表面の機械的性質に及ぼす水素の影響
中村克, 泉隼人, 神谷庄司
日本機械学会M&M2017材料力学カンファレンス
開催年月日： 2017年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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単結晶シリコンの疲労過程における結晶すべり変形の電子線誘起電流観察
神谷庄司, 金剛英, 杉山祐子, 泉隼人
日本機械学会2017年度年次大会
開催年月日： 2017年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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フレキシブル有機トランジスタの曲げ変形による性能劣化モードのその場観察
宍戸信之, 末松祐一, 泉隼人, 神谷庄司
日本機械学会2017年度年次大会
開催年月日： 2017年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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透過型電子顕微鏡を用いた単結晶シリコンの疲労破壊起点の観察
泉隼人, 喜多俊文, 荒井重勇, 佐々木勝寛, 神谷庄司
日本機械学会2017年度年次大会
開催年月日： 2017年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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