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所属学科・専攻等 |
電気・機械工学科 機械工学分野
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職名 |
助教 |
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外部リンク |
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所属学協会
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フレキシブルMEMSデバイス信頼性国際標準化委員会
2018年04月 - 現在
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IEEE
2010年04月 - 現在
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日本機械学会
2010年04月 - 現在
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電気学会
2007年04月 - 現在
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精密工学会
2007年04月 - 2015年04月
研究経歴
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応力発光を用いた構造信頼性評価
その他の研究制度
研究期間： 2016年04月 - 2019年04月
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フレキシブルエレクトロニクスデバイスの曲げ耐久性能評価
科学研究費補助金
研究期間： 2016年 - 現在
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MEMS技術を援用したマイクロニードルの開発
その他の研究制度
研究期間： 2010年04月 - 現在
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MEMS構造薄膜の機械的信頼性評価
科学研究費補助金
研究期間： 2010年03月 - 現在
論文
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A novel method of systematic quantitative characterization for the mechanical robustness of flexible thin film devices against repeated bending deformation
H. Izumi, M. Nomura, Y. Haga, H. Sugiyama, S. Kamiya
2022年09月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
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Observation of fatigue fracture origin in single crystal silicon 査読あり 国際誌
H. Izumi, T. Kita, S. Arai, K. Sasaki, S. Kamiya
Journal of Materials Science 2021年11月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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A multidimensional scheme of characterization for performance deterioration behavior of flexible devices under bending deformation 査読あり 国際誌
Shoji Kamiya, Hayato Izumi, Tomohito Sekine, Nobuyuki Shisido, Hiroko Sugiyama, Yasuko Haga, Takeo Minari, Masaaki Koganemaru, Shizuo Tokito
Thin Solid Films 694 137613 2020年01月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Performance Deterioration Characteristics of Silver-Nanoparticle-Printed Flexible Electric Wirings under Severe Bending Deformation 国際誌
S. Kamiya, H. Izumi, T. Sekine, Y. Haga, H. Sugiyama, N. Shishido, M. Koganemaru
Proceedings of ICMCTF2019 2019年05月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
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Increasing the ductility of single crystalline silicon treated by hydrogen plasma 国際誌
H. Izumi, M. Nakamura, S. Kamiya
Proceedings of the 16th International Conference on Plasma Surface Engineering 2018年09月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
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Electronic imaging of subcritical defect accumulation in single crystal silicon under fatigue loading 査読あり
S. Kamiya, A. Kongo, H. Sugiyama, H. Izumi
Sensors and Actuators A: Physical 2018年07月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Bending Durability of Organic Thin Film Transistor and Stress Sensing using Mechanoluminecence 国際誌
H. Izumi, Y. Haga, N. Shishido, S. Kamiya
Proceedings of Asia-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano Technology 2018 2018年06月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
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Plastic Deformation Enhanced Silicon Surface by Synergistic Effect between Defect and Hydrogen 国際誌
H. Izumi, M. Nakamura, S. Kamiya
Proceedings of the Asia-Pacific Conference of Transducers and Micro-Nano Technology 2018 2018年06月
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
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World-First Electronic Imaging of Subcritical Slip Growth in Single Crystal Silicon under Fatigue Loading 国際誌
S. Kamiya, A. Kongo, H. Sugiyama, and H. Izumi
Proceedings of The 19th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems 2017年06月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
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Existential states and effect of hydrogen on surface defects in silicon 国際誌
M. Nakamura, H. Izumi, and S. Kamiya
Proceedings of International Symposium on Micro-Nano Science and Technology 2016 2016年12月
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）
書籍等出版物
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Fabrication of a micro needle made of biodegradable polymer material, mechatronics for safety
T.Aoki, H.Izumi, S.Aoyagi（ 担当： 共著）
Security and Dependability in a New Era 2007年04月
記述言語：英語 著書種別：学術書
MISC
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MEMS技術を援用したマイクロニードルの開発
青柳誠司，泉隼人
精密工学会誌 74 ( 11 ) 1156 - 1159 2008年11月
記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：公益社団法人精密工学会
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マイクロマシン技術を応用した微小ランセット針の作製
青柳誠司，泉隼人
砥粒加工学会誌 2006年05月
記述言語：日本語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（国際会議プロシーディングズ） 出版者・発行元：砥粒加工学会
講演・口頭発表等
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Test method of electrical characteristic under two-directional deformation for flexible electro-mechanical devices, 3rd report 国際会議
H.Izumi
2024年05月
開催年月日： 2024年05月
記述言語：英語
開催地：Jeju Island 国名：大韓民国
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Test method of electrical characteristic under two-directional deformation for flexible electro-mechanical devices, 2nd report 国際会議
H.Izumi
2023年11月
開催年月日： 2023年11月 - 2024年11月
記述言語：英語
開催地：Frankfurt 国名：ドイツ連邦共和国
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切欠き先端近傍のせん断応力場におけるシリコンの結晶すべり系と疲労損傷
杉山裕子，泉隼人，神谷庄司
日本機械学会2023年度年次大会 2023年09月
開催年月日： 2023年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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Test method of electrical characteristics under two-directional bending deformation for flexible electro-mechanical devices 国際会議
International Electrotechnical Commision 2022 general meeting 2022年11月
開催年月日： 2022年10月 - 2022年11月
記述言語：英語
開催地：San Francisco 国名：アメリカ合衆国
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A novel method of systematic quantitative characterization for the mechanical robustness of flexible thin film devices against repeated bending deformation 国際会議
H. Izumi, M. Nomura, Y. Haga, H. Sugiyama, S. Kamiya
18th International Conference on Plasma Surface Engineering (PES2022) 2022年09月
開催年月日： 2022年09月
記述言語：英語 会議種別：ポスター発表
開催地：Erfurt 国名：ドイツ連邦共和国
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繰返し圧縮負荷による結晶欠陥集積とき裂進展の電子顕微鏡観察
杉山裕子, 泉隼人, 神谷庄司
日本機械学会2019年度年次大会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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繰返し曲げ変形による印刷有機半導体フレキシブルマイクロトランジスタの性能劣化挙動
W. Li, Q. Sun, S. Kamiya, N. Shishido, H. Izumi, T. Sekine, M. Koganemaru, T. Minari
日本機械学会2019年度年次大会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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極薄シリコンチップの曲げ強度測定
灰本隆志，松崎栄，川合章仁，泉隼人，神谷庄司
日本機械学会2019年度年次大会
開催年月日： 2019年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
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Peformance Deterioration Characteristics of Silver-Nanoparticle-Printed Flexible Electric Wirings under Severe Bending Deformation 国際会議
S. Kamiya, H. Izumi, T. Sekine, Y. Haga, H. Sugiyama, N. Shishido, M. Koganemaru
46th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films
開催年月日： 2019年05月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
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第29回定例会 APCOT2018参加報告 招待あり
泉隼人
有機機能材料のリソグラフィ加工コンソーシアム
開催年月日： 2018年09月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
科研費（文科省・学振）獲得実績
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フレキシブルエレクトロニクスの曲げ耐久性能評価と性能劣化挙動の電子顕微鏡観察
2022年04月 - 2025年03月
担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
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マイクロミラーの髙ねじり角負荷に対する疲労寿命評価と疲労加速現象の解明
2018年04月 - 現在
科学研究費補助金 基盤研究(C)
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水素吸蔵によるシリコンの転位移動度向上と低侵襲性延性マイクロニードルの開発
2015年04月 - 2018年03月
科学研究費補助金 若手研究(B)
その他競争的資金獲得実績
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フレキシブルエレクトロニクスの機械的信頼性に向けた新規折り曲げ疲労試験機の開発と性能劣化特性評価
2022年04月 - 2023年03月
日東学術振興財団
担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
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水素による延性増大効果を援用したダクタイルシリコンマイクロプローブの開発
2012年04月 - 2013年04月
日東学術振興財団
担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
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TEM内疲労試験その場観察を目的としたMEMS微小共振デバイスの開発
2011年06月 - 2012年03月
文部科学省 科学技術振興機構 A-STEP
資金種別：競争的資金